镀层厚度检测仪,X射线电镀层膜厚分析仪

  • 2024-03-28 18:05 32619
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江苏天瑞仪器股份有限公司

外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm温度适应范围:15℃至30℃样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm元素分析范围:硫(S)到铀(U)重量:90kg
X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
   X射线源辐射强度的大小,与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度,为了确定其所需的X射线能量值,可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任一厚度时,系统将设定X射线的能量值,使检测能够顺利完成。

X荧光测厚仪又称X射线荧光测厚仪,主要用于精密测量金属电镀层的厚度。
X荧光镀层测厚仪工作原理:通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。
X荧光测厚仪的优势特点:
*高分辨率、清摄像头、便捷操作、快检测速度、人性化界面
*易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
*有助于识别镀层成分的型功能
*机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室
*按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的结果
*使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
*用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。
镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

电镀膜厚测试仪是一款用于镀层行业的厚度检测仪,在使用中可实现全自动软件操作,方便性高,可控性强,具有多点测试属性,和普通的测厚仪相比较,这种电镀式采用的是软件控制,在所测数据上误差率会低。
电镀膜厚测试仪的影响因素有哪些?
1、基体金属磁性量
磁性法测厚受基体金属磁性变革的影响(正在实际应用中,低碳钢磁性的变革能够认为是细微的),为了制止热处置和冷加工因素的影响,应使用取试件基体金属具有不量的尺度片对仪器停止校准;亦可用待涂覆试件停止校准。
2、基体金属电性量
基体金属的电导率对丈量有影响,而基体金属的电导率取其质料成分及热处置办法有关。使用取试件基体金属具有不量的尺度片对仪器停止校准。
3、基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于那个厚度,丈量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
4、边沿效应
本仪器对试件外表外形的陡变敏感。因而正在靠近试件边沿或内转角处停止丈量是不成靠的。
5、曲率
试件的曲率对丈量有影响。那种影响总是跟着曲率半径的减少明显地删大。因而,正在弯曲试件的外表上丈量是不成靠的。
6、试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形,因而正在那些试件上测出可靠的数据。

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